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      • 閉式循環(huán)加熱系統(tǒng)溫度偏差說(shuō)明

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        閉式循環(huán)加熱系統(tǒng)在使用過(guò)程中一旦發(fā)生溫度偏差的話,就需要檢查閉式循環(huán)加熱系統(tǒng),看看每個(gè)環(huán)節(jié)有無(wú)問(wèn)題,有問(wèn)題及時(shí)解決。 閉式循環(huán)加熱系統(tǒng)在穩(wěn)定狀態(tài)下,顯示溫度平均值與工作空間中心點(diǎn)實(shí)測(cè)溫度平均值的差值。(注:這里的顯示溫度平均值指設(shè)備控溫儀表的顯示溫...

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      • 芯片測(cè)試系統(tǒng)解析為什么要進(jìn)行芯片測(cè)試

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        用戶在進(jìn)行芯片測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行的時(shí)候,需要對(duì)于芯片測(cè)試了解清楚,為此,無(wú)錫冠亞分析了相關(guān)芯片測(cè)試的相關(guān)知識(shí),為大家提供更詳細(xì)的知識(shí)。功能不合格是指某個(gè)功能點(diǎn)點(diǎn)沒(méi)有實(shí)現(xiàn),這往往是設(shè)計(jì)上導(dǎo)致的,通常是在設(shè)計(jì)階段前仿真來(lái)對(duì)功能進(jìn)行驗(yàn)證來(lái)保證,所以通常設(shè)計(jì)一...

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      • 半導(dǎo)體控溫設(shè)備測(cè)試說(shuō)明

        489

        半導(dǎo)體控溫設(shè)備在冷源和熱源的溫度下進(jìn)行測(cè)試的工作,那么半導(dǎo)體控溫設(shè)備測(cè)量可重復(fù)性以及可復(fù)制性也是很重要的,這些在測(cè)試中需要注意什么呢? 半導(dǎo)體控溫設(shè)備測(cè)量可重復(fù)性和可復(fù)制性是用于評(píng)估測(cè)試設(shè)備對(duì)相同的測(cè)試對(duì)象反復(fù)測(cè)試而能夠得到重復(fù)讀值的能力的參數(shù)。也...

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      • 半導(dǎo)體控溫裝置系統(tǒng)原理

        569

        半導(dǎo)體控溫裝置是無(wú)錫冠亞針對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)生產(chǎn)的控溫裝置,用戶選擇半導(dǎo)體控溫裝置的時(shí)候,需要對(duì)半導(dǎo)體控溫裝置的系統(tǒng)原理了解清楚,更有利于自己選擇半導(dǎo)體控溫裝置。在半導(dǎo)體控溫裝置自動(dòng)檢測(cè)自身狀態(tài)處于正常測(cè)試狀態(tài)后,會(huì)通過(guò)數(shù)字IO編碼檢測(cè)老化板的插入插槽位...

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      • 芯片測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備分析電壓電流的檢測(cè)說(shuō)明

        580

        芯片測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備是經(jīng)無(wú)錫冠亞研究生產(chǎn)的控溫測(cè)試設(shè)備,在運(yùn)行芯片測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備的時(shí)候,需要對(duì)電流、電壓的檢測(cè)說(shuō)明了解清楚。芯片測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備電流是從電壓(位)高的地方流向電壓(位)低的地方,有電流產(chǎn)生就一定是因?yàn)橛须妷旱拇嬖冢须妷旱拇嬖趨s不一定會(huì)產(chǎn)...

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      • 射流式制冷加熱控溫系統(tǒng)測(cè)試內(nèi)容說(shuō)明

        478

        射流式制冷加熱控溫系統(tǒng)主要運(yùn)行的范圍比較廣,那么,用戶對(duì)于其射流式制冷加熱控溫系統(tǒng)測(cè)試內(nèi)容了解多少呢? 射流式制冷加熱控溫系統(tǒng)信道內(nèi)測(cè)試采用時(shí)分復(fù)用或者碼分復(fù)用的方法來(lái)測(cè)試無(wú)線數(shù)字電路。復(fù)用指的是頻率或者空間上的復(fù)用等。在時(shí)分多址(TDMA)技術(shù)中,一...

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      • 元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)運(yùn)行說(shuō)明

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        元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)是用在元器件測(cè)試中的,一般用戶對(duì)于其簡(jiǎn)單的運(yùn)行不是很了解的話,需要對(duì)其的運(yùn)行流程了解清楚。 一般說(shuō)來(lái),元器件測(cè)試用溫控系統(tǒng)是根據(jù)設(shè)計(jì)要求進(jìn)行測(cè)試,不符合設(shè)計(jì)要求的就是不合格。而設(shè)計(jì)要求,因產(chǎn)品不同而各不相同,有的IC需要測(cè)試大量的...

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      • 智能溫度測(cè)試系統(tǒng)

        561

        智能溫度測(cè)試系統(tǒng)主要是無(wú)錫冠亞針對(duì)各種元器件測(cè)試使用的,對(duì)于元器件來(lái)說(shuō),智能溫度測(cè)試系統(tǒng)在使用之前還需要對(duì)其相關(guān)的元器件性能了解清楚,才能更加有利于其運(yùn)行。除了晶體管、導(dǎo)線之外,其他基本元件還有二極管與電容等等。電容當(dāng)然還是用來(lái)儲(chǔ)存電荷的,元件與...

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      • 芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)知識(shí)科普

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        隨著電子集成電路行業(yè)的不斷發(fā)展,芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也在芯片行業(yè)不斷取得了進(jìn)步,那么用戶對(duì)于芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中芯片了解多少呢? 芯片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要是芯片以及半導(dǎo)體行業(yè)測(cè)試,硅具有良好的半導(dǎo)體特性,而且高溫下極其穩(wěn)定,常溫下硅的導(dǎo)電性能并不好,因?yàn)槊總€(gè)...

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      • 熱循環(huán)檢測(cè)說(shuō)明

        497

        熱循環(huán)檢測(cè)是針對(duì)元器件高低溫環(huán)境下的檢測(cè)工作,那么,關(guān)于無(wú)錫冠亞熱循環(huán)檢測(cè)的相關(guān)知識(shí),大家都了解多少呢? 熱循環(huán)檢測(cè)使用單電源值和封裝的單QJA值計(jì)算芯片的高溫度,該溫度值通常過(guò)于樂(lè)觀,無(wú)法獲知芯片上的熱點(diǎn)效應(yīng)。熱循環(huán)檢測(cè)在沒(méi)有考慮局部溫度變化的情況...

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